Extreme Spurenanalyse mittels GC und GC/MS

Kursbeschreibung

Die Anforderungen nach einem zuverlässigen und möglichst schnellen Nachweis von immer geringeren Spurengehalten sowie einer Erweiterung unseres Wissens über komplex zusammengesetzten Proben nehmen weiter zu. In diesem Kurs soll anhand aktueller Praxisbeispiele gezeigt werden, wie das Leistungsvermögen der GC und GC-MS in jüngster Zeit durch instrumentelle Weiterentwicklungen von der Probenvorbehandlung bis zur Datenauswertung beträchtlich gesteigert werden konnte.

Behandelt werden vorrangig neue Varianten der Extraktion und Probenvorbereitung (QuEChERS, Solvent-Extraktion unter Druck, lösungsmittelfreie Extraktions- und Do - sier techniken), Dosierung großer Probevolumina, selektive Trennsäulen und Detektoren, MS als empfindlicher Universal- und massenselektive Detektor (Scan/SIM, chemische Ionisation, MS-MS, TOF-MS), Fixierung von Retentionszeiten (RTL), verbesserte Bibliothekssuche durch Spektrendeconvolution, Matrixeffekte und Matrixkalibration.

Grundkenntnisse in GC und MS werden vorausgesetzt oder der Besuch des GC-Basiskurses empfohlen.

Termine

Aus dem Inhalt

• von der Probenvorbehandlung bis zur Datenauswertung
• neue Varianten der Extraktion und Probenvorbereitung: QuEChERS, Solvent-Extraktion unter Druck, losungsmittelfreie Extraktions- und Dosiertechniken
• Universal- und massenselektive Detektoren
• Fixierung von Retentionszeiten (RTL)

Unsere Teilnahmebedingungen
Verkaufs- und Lieferbedingungen der Novia Chromatographie u. Messverfahren GmbH

Anmeldeformular